產(chǎn)品編號(hào)：20211216-04

銷售廠家：固安縣雙玉儀器有限公司

綜合測(cè)試卡可用于檢測(cè)圖像的分辨率、圖像畸變程度、常用灰度等級(jí)、亮度、對(duì)比度。星形測(cè)試卡除上述功能外,還可以用于測(cè)量射線源的焦點(diǎn)尺寸。這類測(cè)試卡是 、工業(yè)CT、醫(yī)用CT、醫(yī)用X光診斷設(shè)備的安裝、調(diào)試、檢測(cè)、維修、保養(yǎng)不可少的工具。

檢驗(yàn)方法：鉛箔厚度試驗(yàn)

分辨率測(cè)試卡配合軟件可以自動(dòng)計(jì)算幾個(gè)關(guān)鍵圖像質(zhì)量因素包括銳度、橫向色差、階調(diào)反應(yīng)、色彩反應(yīng)及噪點(diǎn)。

與低反差 規(guī)格完全相容，因?yàn)橹笆褂酶叻床顪y(cè)試圖*引起出界或量度誤差，也缺少漸進(jìn)組別評(píng)定系統(tǒng)的階調(diào)反應(yīng)，并且只有少量功能適用于自動(dòng)分析。

分辨率測(cè)試卡的設(shè)計(jì)基于ISO 12233:2014 定義的低反差edge SFR規(guī)格。

測(cè)試卡有以下三種版本：

標(biāo)準(zhǔn)版：基礎(chǔ)的功能

增強(qiáng)版：增加了額外的正方形、楔形和色彩圖案

擴(kuò)展版：類似于增強(qiáng)版，只是擴(kuò)展到16:9，適用于高清和電影

測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中

盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×3mm

芯片尺寸（W×D×T）：8×8×0.2mm

圖案布局：T型 （3-10μm）

I 型 （15-50μm）

線/空間尺寸：16種規(guī)格圖案,

3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,9μm,10μm （T型）15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (I 型)

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產(chǎn)品編號(hào)：20211216-04

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楔形線對(duì)卡